Sala: JK 010

Sef laborator: Prof.dr.fiz. Dionezie BOJIN
Dr.Ing. Florin MICULESCU

Personal: 1 profesor; 1 sef lucrari, 2 doctoranzi, 1 tehnician

esemEchipamente:
- microscop electronic tip XL-30-ESEM TMP;
- analizor EDAX;
- stage peltier;
- pachet software de control a sistemului si de analiza echipament;
- calculator Intel Pentium 4.

Lucrari didactice:
- pregatira probelor pentru realizarea priectelor de diploma, a dizertatiilor si a tezelor de doctorat;
- pregatirea probelor necesare efectuarii lucrarilor de laborator aferente disciplinelor:
- stiinta biomaterialelor;
- microscopie electronica;
- tehnici de analiza a macro si microstructurii biomaterialelor;
- procese la interfata implant-tesut;
- ingineria suprafetelor in domeniul biomaterialelor

 

philipsTematica de cercetare:

Microscopul electronic ESEM mentine toate caracteristicile unui SEM obisnuit, dar inlãtura inconvenientele legate de vidul inaintat ce trebuie obtinut in jurul probei, fiind astfel posibila analizarea unor probe ude, uleioase, murdare, neconductoare chiar în modul lor natural de existenta, fara a fi modificat nici unul din parametrii reali inainte de pregatirea probei.

Ca metoda de caracterizare a suprafetelor la scara micro si nanometrica, ESEM se poate dovedi util in majoritatea tematicilor de cercetare din domeniul materialelor, al medicinei si al biologiei. Microstructura suprafetei diferitelor tipuri de materiale care se doreste a fi dezvoltate, fie ele materiale metalice, ceramice, compozite sau biologice, fie materiale pentru acoperiri si straturi cu proprietati controlate etc. poate fi caracterizata cu ajutorul ESEM; rezultatele pot contribui de exemplu la stabilirea de corelatii intre parametrii tehnologici si proprietatile suprafetelor obtinute, in vederea imbunatatirii tehnicilor de realizare a materialului respectiv. Examinarea diferitelor procese si detectarea etapelor critice care pot conduce la defecte ale materialelor sau dispozitivelor realizate constituie o alta aplicatie posibila.

In cadrul laboratorului de microscopie electronica, cu ajutorul acestui nou tip de microscop se pot obtine imagini de electroni secundari, imagini de electroni retroimprastiati, in conditii de vid inaintat si chiar in mediu de vapori de apa, in cazul analizarii unor probe neconductive sau a probelor biologice.

Microscopul este dotat cu un dispozitiv de tip EDAX, cu ajutorul caruia se pot obtine analize compozitionale, calitative si cantitative, precum si distributia elementelordin compozitia probei analizate pe intreaga suprafata a acesteia.

 

Cu ajutorul microscopului electronic tip XL-30-ESEM TMP pot fi analizate:
- probe neconductoare: ionizarea gazului din camera probei elimina artefactele tipice de incarcare, ce se observa de obicei in cazul probelor neconductoare;
- probe contaminate: pot fi realizate imagini pe probe ude, uleioase, murdare, sau care elimina gaze. Contaminarea nu va avaria instrumentul si nu va degrada in nici un fel calitatea imaginii;
- probe care emit lumina: detectorul este insensibil la lumina. Se pot obtine imagini de pe probe incandescente, fluorescente sau catodoluminiscente fara aparitia interferentelor;
- probe delicate: in cazul SEM-ului structurile delicate de obicei nu supravietuiesc proprietatilor cerute de instrument. ESEM-ul elimina necesitatea acoperirilor conductive si cea mai mare parte a pregatirii probelor;
- probele hidratate: in modul ESEM, probele ude pot fi analizate fara a fi deshidratate. Acest lucru este foarte important în cazul probelor care trebuie sã ramana hidratate pentru a-si mentine structura. ESEM poate folosi o atmosfera saturata in vapori de apa si poate sa pastreze proba hidratata continuu;
- probe neacoperite: acoperirea probelor in timpul pregatirii acestora poate masca informatii valoroase. De exemplu acoperirea cu aur poate detalia aspectele suprafetei dar va masca structura interna. De aceea in ESEM nu este necesara acoperirea probei;
- raze X: ESEM-ul achizitioneaza date de raze X de pe probele expuse la tensiuni mari de accelerare. Acest lucru elimina interferentele potentiale cu acoperirile conductive si necesitatea analizei liniilor L ºi M de raze X la tensiuni mici;
- probe dinamice: in pregatirea probelor pentru SEM este necesara fixarea specimenului pentru ca acesta sa nu se miste in timpul achizitiei imaginii. in cazul ESEM-ului s-a eliminat acest inconvenient putand fi analizate procese dinamice cum sunt: tensiunea, compresiunea, deformatia, propagarea fisurilor, adeziunea, incalzirea, racirea, inghetarea, topirea, hidratarea, deshidratarea si sublimarea. In modul ESEM toate aceste procese se pot inregistra in timp ce ele se desfasoara.

 

Persoane de contact:

Prof.dr.fiz. Dionezie BOJIN, tel. 0722.476.441, fax 021.410.0201; e-mail: This email address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it.
Dr.ing. Florin MICULESCU, tel. 0722.606.318, fax 021.410.0201; e-mail: This email address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it.